通常，微电子器件产品使用如下几个低气压试验标准:
    1）CJB 150.2A-2009《装备实验室环境试验方法第二部分低气压（高度）试验》；
    2）GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法方法105低气压试验》（ 等效美军标MIL-STD- 202F）；
    3）GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序方法1001低气压（高空作业）》（等效美军标MIL-STD-883D）；
    4）CB/T 2421-2008《电工电子产品基本环境试验总则》；
    5）GB/T 2423.21-2008 《电工电子产品基本环境试验规程试验M低气压试验方法》；
    6）CB/T 2423.25-2008 《电工电子产品基本环境试验规程试验ZAM低温/低气压综合试验方法》；
    7）CB/T 2423.26-2008 《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM高温/低气压综合试验方法>；
    8）CB/T 2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验ZAMD高温/低气压综合试验方法》；
    9）CB/T 2424.15-2008《电工电子产品基本环境试验规程》。