闪存（Flash Memory）是一种长寿命的非易失性（在断电情况下仍能保持所存储的数据信息）的存储器，并且是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。
闪存温度测试原因
为确保闪存可在温度环境（例如: 油气探勘、重工业以及航空领域）可正常实现稳健的闪存读/写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，RIUKAI超高速高低温交变湿热试验箱凭借可测试温度 -70℃至+150℃，每秒可快速升温或降温30℃，温度精度±0.1℃等优势广泛应用于闪存制造行业。瑞凯仪器作为中国自主品牌环境温湿度试验设备制造商，从高低温交变湿热试验箱的研发、生产、销售及售后等一系列服务，为用户提供更便捷、可靠的技术产品。闪存温度测试方法
通过与 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，小编推荐选用RK-TH-408高低温交变湿热试验箱，并提供两种温度操作模式：高低温及恒定温湿度测试。闪存多采用恒定温湿度测试模式来进行交变湿热测式，将闪存与RK-TH-408使用t型热电偶相互连接，如此即可掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。RK-TH-408高低温交变湿热试验箱可与多种类型工程机联用，进行芯片高低温测试。