测试目的：验证被测终端在高低温环境下运行或存储的环境适应能力
测试仪器：高低温试验箱、冷热冲击试验箱
技术参数：
1) 高温存储：70±2℃ 试验时间：48H（温度稳定后开始计算）；
2) 低温存储：-40±2℃ 试验时间：48H（温度稳定后开始计算）；
3) 温度冲击存储：温度在-40±2℃/60±2℃之间交替，10个循环；
4) 高温工作：50±2℃ 试验时间：24H（温度稳定后开始计算）；
5) 低温工作：-20±2℃ 试验时间：24H（温度稳定后开始计算）；
6) 高温高湿工作：温度40±3℃，湿度93±3% 试验时间：24H（温湿度稳定后开始计算）。
预置条件：被测终端功能完好，外观正常。
1) 在常温下对被测终端进行外观、功能检查；
2) 将被测终端关机状态放进高低温试验箱，高低温试验箱内温度以5℃/Min的速率从常温上升到70±2℃温度，温度达到稳定后持续存储48小时；
3) 将被测终端从试验箱取出在常温中恢复2小时后，进行外观、装配、功能检查，要求外观、装配、功能与测试前无明显差异；
4) 在常温下对被测终端进行外观、功能检查；
5) 将被测终端关机状态放进高低温试验箱，高低温试验箱内温度以5℃/Min的速率从常温下降到-40±2℃温度，温度达到稳定后持续存储48小时；
6)将被测终端从试验箱取出在常温中恢复2小时后，进行外观、装配、功能检查，要求外观、装配、功能与测试前无明显差异；
7) 在常温下对被测终端进行外观、功能检查；
8) 将样机关机状态放进冷热冲击试验箱，样机先在-40℃环境下存储1小时，在5分钟之内，温度上升到60℃存储1小时，此为一个循环。样机共测试10个循环；
9) 将被测终端从试验箱取出在常温中恢复2小时后，进行外观、装配、功能检查，要求外观、装配、功能与测试前无明显差异；
10) 在常温下对被测终端进行外观、功能检查；
11) 将待测样机开机状态，插入用户卡，T-flash卡放进高低温试验箱，其中一台样机插上充电器，另一台样机使用电池供电开机；
12) 高低温试验箱内温度以5℃/Min的速率从常温上升到设定的温度，温度达到稳定后持续24小时；
13)将样机从试验箱取出在常温中恢复2小时后，进行外观、装配、功能检查，要求外观、装配、功能与测试前无明显差异，因电池没电导致的无法开机不算故障，可充电后再进行检查；
14) 在常温下对被测终端进行外观、功能检查；
15) 将待测样机开机状态，插入用户卡，T-flash卡放进高低温试验箱，其中一台样机插上充电器，另一台样机使用电池供电开机。
16)高低温试验箱内温度以5℃/Min的速率从常温上升到设定的温度，湿度设定为标准要求的湿度，温湿度达到稳定后持续24小时；
17) 将样机从试验箱取出在常温中恢复2小时后，进行外观、装配、功能检查，要求外观、装配、功能与测试前无明显差异，因电池没电导致的无法开机不算故障，可充电后再进行检查。
预期结果
1) 步骤3后，被测终端外观无明显变化，基本功能正常;
2) 步骤6后，被测终端外观无明显变化，基本功能正常;
3) 步骤9后，被测终端外观无明显变化，基本功能正常;
4) 步骤13后，被测终端外观无明显变化，基本功能正常;
5)步骤17后，被测终端外观无明显变化，基本功能正常.
备注：高低温试验箱共4台，分为两组，两组并行测试，每组内的测试项串行测试：
组：高温存储、低温存储、温度冲击；
第二组：高温工作、低温工作、高温高湿。